- 更新時(shí)間2024-12-24
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場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)主要用于高分辨率的表面形貌觀察和微區(qū)成分分析。它具有高分辨率，能夠觀察納米尺度的樣品表面形貌，并通過(guò)二次電子成像原理獲得忠實(shí)原貌的立體感強(qiáng)的圖像。
FESEM可以用于各種固態(tài)樣品的表面形貌觀察，包括生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等。此外，F(xiàn)ESEM還配備高性能X射線能譜儀，能夠進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌和化學(xué)組分綜合分析能力。
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像原理，對(duì)樣品表面進(jìn)行放大觀察。其使用場(chǎng)發(fā)射電子槍作為電子源，通過(guò)強(qiáng)電場(chǎng)使金屬的電子脫離束縛，形成高亮度、高相干性的電子束。電子束經(jīng)過(guò)一系列的電磁透鏡和光闌進(jìn)行聚焦、偏轉(zhuǎn)和整形，形成一個(gè)細(xì)小的探針。掃描線圈控制電子束在樣品表面進(jìn)行逐行掃描，與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)。這些信號(hào)被探測(cè)器收集、放大并處理后，生成反映樣品表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息的圖像。
維護(hù)與保養(yǎng)
燈絲維護(hù)：燈絲是場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的關(guān)鍵部件之一，其使用壽命有限。正常使用情況下，燈絲使用時(shí)間約為10000~20000小時(shí)。在使用過(guò)程中，應(yīng)注意觀察燈絲的狀態(tài)，及時(shí)更換老化的燈絲。燈絲更換需專業(yè)人士上門服務(wù)。
真空系統(tǒng)維護(hù)：真空系統(tǒng)的性能對(duì)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的分辨率和穩(wěn)定性有著重要影響。應(yīng)定期檢查真空泵、管道、真空閥門等部件的性能，確保其正常工作。同時(shí)，應(yīng)定期測(cè)量真空值，確保系統(tǒng)真空度滿足要求。
日常清潔與保養(yǎng)：定期對(duì)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡進(jìn)行清潔和保養(yǎng)，包括清潔樣品室、探測(cè)器、鏡頭等部件，以及檢查電氣連接和機(jī)械部件的緊固情況。
綜上所述，場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡，具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域和好的性能特點(diǎn)。在使用過(guò)程中，應(yīng)注意滿足其使用環(huán)境要求，并進(jìn)行適當(dāng)?shù)木S護(hù)與保養(yǎng)，以確保其正常工作并延長(zhǎng)使用壽命。
